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日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试
发布时间:2022-08-02        浏览次数:8        返回列表
   日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试

  日本J-RAS离子迁移测试装置

  追求高性能、高信赖性、高便利性的系统构成。

  ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统,并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。

  作为系统构成我们准备了40CH/100CH型,可以根据您的预算、设置空间来进行选择。

  高机能

  *用PC设定试验条件之后,就可以不使用PC来继续进行试验。

  *使用ECM-100主机就可对HAST/试验槽进行自动控制,试验状况可以用ECM-100进行变更/监视。

  *HAST/试验槽的开门功能等的联动装置功能也是标准装备的

  *没有通信机能的HAST/试验槽,也可以通过模拟输入来监视湿度

  产品优势

  简单/便利

  △采用高性能驱动计测,测试时焊接工序大幅减少。

  △软件设计简单明了,能够非常直观得操作。

  △配有过程中的记录、报告相关的报表功能。

  △测试中,设备可以单独运行,电脑电源切断也不受影响。

  高性能&高机能

  △因为每个通道都单独配有电压/计测电路,可以做到16ms的计测间隔。

  →迁移现象的检测能力更高,对产品品质把控更精准。

  △一台电脑**大可以增设400通道。

  △每个通道可以设定不同的电压。

  可靠性更高&操作更简洁

  △具有自身诊断机能,把异常计测防范于未然。

  △配有CF卡,以防设备故障数据丢失。

  △每个单元独立,其中一个单元损坏,可以单独拆卸维修,而不影响其他通道使用。

  △标准配置也可以接入1~300V的电压范围。

  CAF测试产品链接:

  http://www.sz-skyan.com/Products-13799230.html

  https://www.ybzhan.cn/st133409/product_13799230.html

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